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济南微纳颗粒仪器受邀参加中国颗粒学会第十届学术年会

作者:济南微纳颗粒来源:济南微纳颗粒仪器股份有限公司 日期:2018年8月14日 10:46

    2018年8月9日,中国颗粒学会第十届学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会在历史悠久的沈阳市举行,本届会议由中国颗粒学会、中国科学院金属所、 清华大学、大同大学(台北)共同主办,作为颗粒测试领域及国内激光粒度仪研发的先驱品牌,济南微纳颗粒仪器受邀参会。

 

   

    8月10日下午,在颗粒的测试与表征分会场,微纳颗粒创始人任中京教授现场讲解《激光粒度分析仪多次散射补偿技术研究》的研究报告。激光粒度分析仪多次散射补偿技术的研究的意义就是提高激光粒度仪测试的精度,消除激光多次散射对颗粒测试结果带来的影响,阐述了微纳颗粒研发的补偿技术可有效改善大颗粒宽分布颗粒群的粒度分布的测试精度,并且该技术已经成熟运用到微纳研发的Winner系列激光粒度仪中。

 

   

    作为国内激光粒度仪行业研发的先驱者,微纳颗粒一直在颗粒测试技术领域潜心钻研,把创新技术运用到仪器,并成熟落地到项目。

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