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任中京教授受邀参加2013年SAC/TC168颗粒分技术委员会年会

作者:济南微纳来源:济南微纳 浏览次数: 日期:2013年11月2日 09:36

 

全国颗粒表征与分检及筛网标委会颗粒分技术委员会(以下简称“分委会”)年会于1019-21日在安徽池州召开。会议由国家非金属矿深加工产品质量监督检验中心承办,共有28名委员和代表参会。会议讨论了立项项目的拟定标准及其颗粒分析技术在国内的适用性、应用领域、标准名称的适宜性以及与国际标准的关系等。

作为全国颗粒测试技术的领航者济南微纳颗粒仪器股份有限公司的董事长任中京教授受邀参加了此次会议。任中京教授从事激光颗粒分析理论与技术研究工作30年有余。期间主持并完成国家省部科技攻关项目4项。发表论文60余篇,其中收入美国工程索引(EI)研究论文20余篇,在国际颗粒学研究领域享有很高声誉。

 

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